二手日本電子SEM+EDX JSMIT300掃描電子顯微鏡經(jīng)過改進照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號處理系統(tǒng)，不僅能觀察高質(zhì)量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進行高通量的直觀操作。JSM-IT300 提供高畫質(zhì)圖像，能滿足您對W-SEM機型的期待，新的鏡筒設計和掃描系統(tǒng)使得不導電樣品的圖像質(zhì)量有了顯著的提高。

二手FEI-SEM電鏡 FEI-QUANTA250 FEI Quanta 系列包括六款可變壓力和環(huán)境掃描電子顯微鏡 (ESEM™)。所有這些產(chǎn)品均可滿足工業(yè)工藝控制實驗室、材料科學實驗室和生命科學實驗室的多種樣本和成像要求。

日立SEM二手S-4300掃描電子顯微鏡采用大樣品室的半內(nèi)透鏡設計，卻能達到分辨率，可以與內(nèi)透鏡UHR掃描電鏡相媲美。

（2手）掃描電鏡SEM+EDX分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（EDS），統(tǒng)合于一體。結(jié)構(gòu)緊湊的EDS由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制，操作員只用一只鼠標，就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。