掃描電子顯微鏡表面分析儀優(yōu)點:

①有較高的放大倍數(shù)，幾萬~幾十萬倍之間連續(xù)可調(diào)；

②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結(jié)構(gòu)；

③試樣制備簡單。 目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時進行顯微組織性貌的觀察和微區(qū)成分分析，因此它是當今十分有用的科學研究儀器。

掃描電子顯微鏡表面分析儀
優(yōu)秀電子光學系統(tǒng)                                                

掃描電子顯微鏡金屬材料表面分析儀JSM-IT100A是日本電子株式會社推出機型，沿襲日本電子的優(yōu)秀電子光學系統(tǒng)，集合了分析掃描電鏡精髓功能，設計精簡自動化程度高。

使用多點觸摸屏，操作舒適                                            

掃描電子顯微鏡金屬材料表面分析儀JSM-IT100A通過多點觸控技術和的操作軟件，操作直觀簡單。只需輕觸屏幕就能操控各種功能，舒適便捷。新開發(fā)的操作界面簡明易懂，即使是SEM新手也能輕松獲得高品質(zhì)的SEM圖像，進行EDS元素分析。

標準配置EDS分析功能的分析型掃描電鏡                                          

標準配置EDS分析功能的JSM-IT100A，不僅能獲取高分辨率的圖像，還采用了無需液氮制冷的EDS檢測器 (DRY SD)，能夠進行定性分析、定量分析、元素面分布。此外，搭載的大型全對中形樣品臺可以對應各種樣品。